Anritsu 랩 테스트 솔루션(Lab test Solution) - 고성능 네트워크 분석기 VectorStar™
70 kHz ~ 220 GHz 연속스윕 지원하는 Broadband VNA On-wafer 측정 시스템
- VectorStar 시리즈는 최대 70 kHz to 220 GHz 연속주파수 측정 가능(업계 유일)
- 유연한 확장성으로 Banded 구성의 최대 1.1 THz 주파수 및 4 포트 확장 가능
- 업계 최고의 2.5ns 해상도를 통한 Pulse기반 S-Parameter 지원 가능
- Noise figure 측정
모델명 | 포트수 | 최대 주파수 | 동적범위 | 특징 |
MS464xB | 2/4 | 20/40/70 GHz | 110 dB | 4 포트 및 220 GHz System으로 업그레이드 가능 |
ME7838AX/D/G ME7838A4/D4/G4 |
2 4 |
125/150/220 GHz | 110 dB | 안리쓰 특허기술로 업계 최고의 광대역 측정 지원 |
MS464xB + VDI Module | 2 | (최대) 1.1 THz | - | VDI 모듈과 결합하여 최대 1.1 THz 주파수 지원 가능 |
고성능 네트워크 분석기 VectorStar™ 주요특징
- 확장의 용이성
- 최대 220GHz 4port까지 기존 장비에 업그레이드로 유연한 확장이 가능함.
- IF Digitizer(Opt. 035, H/W)
- Fast IF Digitizer HW 옵션 제공(최대 200MHz 수신 대역폭 제공)
- 최대 4개의 독립적인 Pulse source 제공
- Pulse View(Opt. 042, S/W)
- 업계 최고의 2.5ns 해상도를 통한 Pulse기반 S-Parameter 지원 가능
- 다양한 펄스패턴 제공(Single, Double, Triple, Quadruple, Burst 등)
- Pulsed 측정 configuration
- Time resolution
- ns단위의 분해능
- Pulse view configuration
-Pulse profile 사용자 정의
- ONA(Optical Network Analyzer) ME7848A
- OE(Optic to Electric), EO(Electric to Optic) 디바이스 측정
- MN4775A E/O Converter & MN4765B O/E Cal Module
850/1310/1550 nm 파장지원(최대 110GHz 지원)
- Opt. 041/048(Noise Figure Measurement)
- 30~110GHz Range에서 Cold Source 방식의 Noise Figure 측정
* Opt. 041: Single-ended Noise Figure, Opt. 048: Differential Noise Figure
- Opt. 061/062(Active Measurement Suite)
- 내장 Bias-Tee, 감쇄기 및 Source Power sweep 기능을 이용한 능동회로 측정
- P1dB, Gain Compression, Harmonics 등 측정
*Opt. 061: 1 source & 1 test attenuator, Opt. 062: 2 source and 2 test attenuator
- Opt. 031(Dual source)
- VNA 2nd source 지원(Differential PA 측정 및 Single Connection IMD 측정시 사용)
- Opt. 044(IMD View)
- IMD 측정 셋팅을 위한 GUI SW 제공
- Opt. 032(Internal Combiner)
- Single Connection IMD 측정을 위해 내부 VNA 2개 source를 내부적으로 Combining(Port 1에 2-Tone 신호 출력)
Applications
- RF 회로/부품 측정(Antenna, Amp, LNA, Filter)
- 물질 상수 측정(유전율, 투과율)
- On wafer 측정(MMIC, PCB)
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